SEM
粉末、薄膜、块体、不易挥发易爆或带磁性
扫描电镜SEM照片(非磁性样品)、扫描电镜SEM照片(弱磁性样品)、液氮脆断
+扫描电镜SEM照片、包埋+扫描电镜SEM照片、SEM-EDS点扫、SEM-EDS面扫、
SEM观察镀层厚度、SEM观察颗粒尺度
TEM
针对固体纳米粉末,只能测弱磁性样品
透射电镜TEM照片(非磁性样品)、高分辨透射电镜(非磁性样品)、透射电镜
TEM和高分辨透射电镜(弱磁性样品)、TEM-EDS点扫、TEM-EDS面扫
飞行时间二次离子质谱仪
TOF-SIMS
应用于分析无机、有机、纳米材料(特别是半导体、电池材料)、微电子、生物医
学、地质/考古、冶金、环境、人工智能等固体材料。 纳米尺度下,对固体材料、
生物组织或细胞进行化学成像分析;半导体材料痕量杂质分析(ppm至ppb);
薄膜样品三维空间尺度化学成分分布及成像
谱图检测、化学成分成像、深度剖析测试、表面异物分析、表面物质成分测试等
专业技术工程师2000余人
根据需求提供个性化方案
资质认证机构
操作规范,保障结果准确性
100万条谱图数据库
覆盖大型仪器800余台
流程简单,周期短
售前售后一对一解决问题
在线咨询
工程师业务需求
寄送样品
或工程师上门取样
样品分析测试
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